M2宇井くんが、7/17(水)に東京電機大学、東京千住アネックスで開催された，産総研の光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第56回総会・研究会に招待されました．
euspen talent programmeの参加内容から，STEP(選択的熱可塑性電子写真プロセス)積層造形機の機上測定用レーザセンサの校正用試料の設計について講演を行いました．
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