2015年9月13-16日に北海道大学で開催された日本機械学会年次大会における「加工計測技術の最前線（1）」のセッションで高橋研究室から以下 2件の口頭発表を行いました。
金 成碩 ： スポット重複移動情報を用いた光学式超解像検査法の開発
橘 一輝 ： 光学的ナノ異物検出を可能とする高感度液相プローブ計測法の研究
明日の発表に備えてジンギスカンしゃぶしゃぶ
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