2016年9月12-14日に九州大学で開催された日本機械学会年次大会における「加工計測技術の最前線」のセッションで高橋研究室から以下 2件の口頭発表を行いました。
道畑正岐：Whispering gallery mode 共振を用いたマイクロ球径計測 -偏光に着目した屈折率校正法の提案-
増井周造：後側焦点面干渉法を用いた光触媒ナノ加工粒子変位計測の高感度化
